应用范围：

AFM通过检测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定，另一端的针尖接近样品，通过其相互作用，使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。利用传感器检测这些变化来获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。AFM分为接触式、非接触式和轻敲式。AFM可提供真正的三维表面图，不会对样品造成伤害。

基本功能：

1、表面形貌和表面粗糙度

AFM可以对样品表面形态、纳米结构、链构象等方面进行研究，获得纳米颗粒尺寸，孔径，材料表面粗糙度，材料表面缺陷等信息，同时还能做表面结构形貌跟踪(随时间，温度等条件变化)。可对样品的形貌进行丰富的三维模拟显示，使图像更适合于人的直观视觉。

2、精准定位如：纳米片厚度/台阶高度

AFM可以对其进行无损的测量。AFM在垂直方向的分辨率约为0.1nm,因此可以很好的用于表征纳米片厚度。

3、相图

作为轻敲模式的一项重要的扩展技术，相位模式是通过检测驱动微悬臂探针振动的信号源的相位角与微悬臂探针实际振动的相位角之差(即两者的相移)的变化来成像。引起该相移的因素很多，如样品的组分、硬度、粘弹性质，模量等。简单来说，如果两种材料从AFM形貌上来说，对比度比较小，但你又非常想说明这是在什么膜上长的另外一种，这个时候可以利用二维形貌图+相图来说明(前提是两种材料的物理特性较为不同，相图有明显对比信号才行)。

制样须知：

1、样品状态：可为粉末、液体、块体、薄膜样品；

2、粉末样品：常规测试项目样品起伏一般不超过5 微米，特殊测试项目样品起伏一般不超过1um,提供20mg,液体不少于1ml,尺寸过大请提前咨询；

3、粉末/液体样品请务必备注好制样条件，包括分散液，超声时间及配制浓度；

4、薄膜或块状样品尺寸要求：长宽0.5-3cm之间，厚度0.1-1cm之间，表面粗

糙度不超过5um,一定要标明测试面!块状样品需要固定好，避免在寄送过程产生晃动或摩擦影响测试结果!